[其他]記憶相序測試器無效
| 申請號： | 86208019 | 申請日： | 1986-10-13 |
| 公開（公告）號： | CN86208019U | 公開（公告）日： | 1987-08-19 |
| 發明（設計）人： | 蔣日升 | 申請（專利權）人： | 蔣日升 |
| 主分類號： | G01R29/18 | 分類號： | G01R29/18 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 河北省張家*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 記憶 測試 | ||
【權利要求書】：
1、一種記憶相序測試器，其特征為：由塑料材料外殼，采樣變換，信號記憶，相位判別和顯示部分組成。
2、按權利要求1所述的測試器，其特征為：記憶相序測試器可由基本邏輯電路或單片機實現。
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