[其他]改進型的雙光束X射線測厚儀

無效

• 申請號: 86209739
• 申請日: 1986-12-06
• 公開（公告）號: CN86209739U
• 公開（公告）日: 1987-09-16
• 發明（設計）人: 余式正
• 申請（專利權）人: 冶金工業部自動化研究所
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 冶金專利事務所
• 代理人: 常貴貞

1、一種改進型雙光束X射線測厚儀，其特征在于：

a)、前置放大器采用微電流放大器和對數放大器相結合的電路實現偏差指示的線性化；

b)、用標準片代替基準楔進行厚度設定，同時能通過材質補償電位器實現被測板材質補償；

c)、在設定光束中設置適當厚度的平衡片，使兩束光束完全平衡。

2、根據權利要求1所述的測厚儀，其特征在于前置放大器中的兩個微電流放大器F₁和F₂分別把上部電離室電流i₁和下部電離室的電離電流i₂之差△i＝i₁－i₂，以及i₂加以放大，然后通過對數放大器求得i₂和i₂的對數差，用這種電路來保證前置放大器零點的穩定性。

3、根據權利要求1所述的測厚儀，其特征在于厚度設定電路設置一組設定精度調整電位器，能對標準片的公差進行修正，而且互不發生影響。