[其他]超快變電場的測量系統無效
| 申請號： | 87101030 | 申請日： | 1987-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN87101030A | 公開（公告）日： | 1988-11-09 |
| 發明（設計）人： | 高福源;陳淑琴 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海光學精密機械研究所;陳淑琴;支婷婷;陳蘭榮;邱佩華 |
| 主分類號： | G01R13/40 | 分類號： | G01R13/40;G01R29/00 |
| 代理公司： | 中國科學院上海專利事務所 | 代理人： | 李蘭英,張澤純 |
| 地址： | 上海市8*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 超快變 電場 測量 系統 | ||
【權利要求書】：
1、一種用于測量超快變電場的測量系統，由超短脈沖發射光源、擴束器、微分時間延遲器，成像系統和探測顯示裝置組成，其特征在于在聚焦系統和成像系統之間放入由起偏振器、普克爾盒和檢偏振器組成的電光開關，被測脈沖信號加在電光開關上，超短脈沖發射光源發射的光脈沖作為基礎光束，由同步裝置控制基礎光束的光脈沖到達普克爾盒的同時將被測脈沖信號加于普克爾盒內。
2、根據權利要求1所述的一種超快變電場的測量系統，其特征在于普克爾盒的晶體最好選用鈮酸鋰晶體。
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