[其他]控制高爐運行的方法

無效

• 申請號: 87103633
• 申請日: 1987-05-19
• 公開（公告）號: CN87103633A
• 公開（公告）日: 1987-12-23
• 發明（設計）人: 脇元一致;柴田基博;石井孝治;櫻井雅昭
• 申請（專利權）人: 日本鋼管株式會社
• 主分類號: C21B5/00
• 分類號: C21B5/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 劉建國

本發明涉及控制高爐運行的方法，特別涉及根據裝在高爐上的傳感器裝置輸出的信息，診斷高爐運行情況的方法。

最近，為診斷和控制高爐的運行，提出了許多方法。例如，日本公開專利（KOKAI）84-64705號描述了一種方法，其中，

（a）從各種傳感器的輸出數據中導出基于積累的經驗已清楚地知道的因素;

（b）依次排列并數值計算與高爐中發生的現象有關的因素;

（c）從短期及長期這樣排列并計算的因素測得高爐的運行情況。

這個方法的缺點在于它要求一個分析模型，這個模型必須靠高爐在其整個壽命中的變化進行修正來保持。而這個修正本身是一個非常費時且復雜的工作，因為分析模型是非常復雜的。

本發明的目的是提供一種診斷高爐運行的方法，其中分析模型很容易按高爐在其整個壽命中的變化來修正。

根據本發明，給出了控制高爐運行的一種方法，它包括如下步驟：

把高爐中的傳感器裝置輸出的第一數據儲存在中央處理單元（CPU）;

處理所述第一數據，由此準備表明高爐運行情況的第二數據;以及

通過比較所述第二數據與標準數據準備真-偽數據作為第二數據，并從第三數據和通過積累高爐運行經驗形成的知識庫推斷高爐運行情況。

圖1是本發明的診斷高爐運行情況的方法簡圖;

圖2是執行本發明方法的裝置方框圖;

圖3是本發明方法的流程圖;

圖4是本發明推斷高爐運行情況的過程的簡圖;

圖5是由本發明的一個實例得到的結果簡圖;以及

圖6是由本發明一個實例得到的診斷結果與真實運行情況之間關系的簡圖。

現在參考圖1到圖4來描述本發明的一個實施例。

圖1示意地表示一種根據本發明診斷高爐運行情況的方法。標號10代表大型計算機。計算機10包括依次處理從各種傳感器裝置11輸出的數據的按序處理裝置12，按序存儲裝置13，傳感器數據處理裝置14和接口緩沖寄存裝置15。標號20代表小型計算機，它包括用以診斷高爐運行情況的知識庫裝置21，共用數據緩沖寄存裝置22和推斷裝置23。標號30代表顯示推斷裝置計算結果的陰極射線管（CRT）。

圖2示意地說明一個執行本發明方法的裝置。標號11a，11b和11c每一個都表示相應于圖1中傳感器裝置11的傳感器。大型計算機10包括下述裝置：

41：接口;

42：中央處理單元（CPU）;

43：儲存程序的只讀存儲器（ROM）;

44和45：隨機存取存儲器（RAMs）;及

46：接口

CPU42和存儲由CPU42執行的程序的ROM43組成了按序處理裝置12和傳感器數據處理裝置14，這兩者都示于圖1。RAM44組成圖1的按序存儲裝置13。RAM45暫時儲存從傳感器裝置輸出的數據。RAM45和接口46組成了圖1的接口緩沖存儲裝置15。

在圖2中，小型計算機20包括鍵盤47，接口48、CPU49、ROM50、RAMs51和52，以及接口53。CPU49和存儲由CPU49執行的程序的ROM50組成圖1的推斷裝置23。RAM51組成也示于圖1的知識庫裝置21。存儲在RAM51中的數據可用操作鍵盤47來改變。新的數據可以通過鍵盤47經接口48輸入而加到上述數據中。RAM52組成圖1的共用數據存儲裝置22。存在大型計算機10的RAM45中的數據通過接口46傳輸到RAM52中。CPU49得到的結果通過接口53提供給CRT30并被顯示。現在結合圖3的流程圖來說明本發明的實施例的工作。

（1）首先，從傳感器裝置11輸出的第一數據以預定的序列由按序處理裝置12讀入，然后存在按序存儲裝置13中（第一步）。事實上，這一工作是在CPU42的控制下，把數據從傳感器11a，11b和11c通過接口41提供給RAM44來完成的。

（2）存在按序存儲裝置12中的第一數據由CPU42處理，從而形成表示高爐運行情況的第二數據。這一處理步驟產生表明變化率、水平比較、值漂移的數據和第一數據在一個指定時間間隔內的積分值。這一工作實際上由CPU42進行（第二步）。

（3）在第二步得到的第二數據由CPU42與標準數據比較，由此提供真-偽數據。該真-偽數據存入接口緩沖存儲器裝置15，更明確地說，這些數據存在圖2中的RAM45中（第三步）。

（4）存在接口緩沖存儲裝置15中的真-偽數據被傳輸到共用數據緩沖存儲裝置22中（第四步）。更準確地說，在RAM45中存儲的數據被傳輸到RAM52中。