[其他]數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 87104460
• 申請日: 1987-06-25
• 公開（公告）號: CN87104460A
• 公開（公告）日: 1988-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 費(fèi)正生
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱電工學(xué)院
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1、一個由積分器、比較器、極性檢測與檢零邏輯和控制邏輯組成的雙積分A/D轉(zhuǎn)換器以及由數(shù)字反饋控制邏輯，可編程計數(shù)器和開關(guān)控制組成的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，本發(fā)明的特征在于在第二次采樣中，提出了將第一次采樣中通過A/D轉(zhuǎn)換所得的數(shù)字來進(jìn)行數(shù)字反饋以取代巳有兩次采樣A/D轉(zhuǎn)換器中采用高精度D/A轉(zhuǎn)換器的模擬反饋。

2、按照權(quán)項所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器。其實(shí)現(xiàn)高精度的方法在于：在第二次采樣過程中，把第一次采樣所得數(shù)字量的全部位數(shù)或部分高位數(shù)預(yù)置在可編程計數(shù)器N_2h中，作為數(shù)字反饋量，以減法計數(shù)的方式控制基準(zhǔn)電壓對積分器放電的時間，而對另一可編程計數(shù)器N₁預(yù)置一定數(shù)字量后以減法計數(shù)的方式來計算被測量對積分器充電的時間，由于數(shù)字反饋進(jìn)行m個節(jié)拍，第二次采樣下斜時所用的基準(zhǔn)電壓縮小n倍和所用鐘頻提高q倍，使第一次采樣所得數(shù)字?jǐn)?shù)N_2h擴(kuò)展mnq倍，從而提高了A/D轉(zhuǎn)換器的精度。

3、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其一般精度的雙積分A/D轉(zhuǎn)換器可用現(xiàn)成商品，如大規(guī)模集成電路雙積分A/D轉(zhuǎn)換器或一般精度的數(shù)字電壓表。

4、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其控制邏輯可由單片機(jī)、單板機(jī)、微機(jī)系統(tǒng)、計算機(jī)系統(tǒng)、大規(guī)模集成電路或分立元件構(gòu)成。

5、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其可編程計數(shù)器N₁，N_2h，m和N_2l也可用可預(yù)置可逆計數(shù)器或用單片機(jī)、單板機(jī)、微機(jī)系統(tǒng)或計算機(jī)系統(tǒng)中的計數(shù)單元構(gòu)成，也可制成專用大規(guī)模集成電路。

6、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其第一次采樣也可用雙積分A/D轉(zhuǎn)換器之外的其他A/D轉(zhuǎn)換器。

7、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其只讀存儲器和隨機(jī)存取存儲器也可包含在單片機(jī)、單板機(jī)、微機(jī)系統(tǒng)、或計算機(jī)系統(tǒng)中。

8、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器，其模擬電路和數(shù)字電路全部或大部分可集成在一塊或幾塊大規(guī)模集成電路中。

9、按照權(quán)項1所述的數(shù)字反饋式兩次采樣高精度模-數(shù)轉(zhuǎn)換器和按照權(quán)項2所述的數(shù)字反饋方法，可根據(jù)參量m、n和q的不同組合，以實(shí)現(xiàn)所需的轉(zhuǎn)換精度和轉(zhuǎn)換速度。