[其他]碎屑探測器

無效

• 申請號: 87106641
• 申請日: 1987-09-30
• 公開（公告）號: CN87106641A
• 公開（公告）日: 1988-06-22
• 發明（設計）人: 埃米·羅斯;瓦拉斯·H·科特
• 申請（專利權）人: 科特電子公司
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G08B29/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 李強

1、用于顆粒計數器(10)的碎屑探測器，在這種計數器中，有一個分離兩個室(12和14)的小狹口(16)，在所述狹口(16)上加有穩恒電流(26)，懸浮在液體(20)中的顆粒(18)和碎屑通過所述狹口(16)，當各個顆粒(18)或碎屑經過所述狹口(16)時在其上產生一個電壓脈沖(圖3A)，碎屑沉積在狹口在其上產生一個直流電壓位移(圖3A)，所述顆粒計數器(10)帶有用以檢測在所述狹口(16)上的電壓(圖3A)的檢測裝置(28)和用于耦合所述檢測裝置(28)與所述狹口(16)的電容裝置(34)，其特征在于所述碎屑探測器包含有用于對所述檢測裝置(28)的輸出進行積分的積分裝置(40)和用于確定積分后的檢測裝置輸出在一定的延遲時間之后是否超過某一值(Vth)的確定裝置。

2、專利要求1的碎屑探測器，其特征為，在那所說的電容裝置（34）保持一個零平均電壓值（38）（對測得的因顆粒（18）和碎屑穿過所說的狹口（16）產生的電壓脈沖）所說的積分裝置（40）的輸出是一個脈沖電壓（圖3C）對各個穿過所說的狹口（16）的顆粒（18）和碎屑是一個階躍電壓（圖3C）。

3、專利要求1或2的碎屑探測器，其特征在于，在所說的電容裝置（34）中產生一個電壓下陷（52），在各個測得的電壓脈沖的下降沿，對各個通過所說的狹口（16）的顆粒和碎屑所說的積分裝置的輸出是一個脈沖電壓（圖3C），對沉積在所說狹口（16）的碎屑是一個階躍電壓（圖3C）。

4、按權利要求1、2或3中的任何一點的碎屑探測器，以下述為特征：在所說的測定裝置（42、44、46和48）提供一個輸出信號（圖3D）響應積分裝置（40）輸出信號（圖3C）保持在某一閾值上（Vth）所說的某一延滯時間，在原先在所說的某一閾值（Vth）之上及之后。

5、按照專利要求1或2的碎屑探測器，以下述為特征，該積分裝置（40）在其與該傳感裝置（28）輸出電壓（圖3B）的積分的輸出端提供一個電壓（圖3C）;該確定裝置（42、44、46和48）包括有一初級輸入（+）聯到該積分裝置（40）輸出和一次級輸入（-）聯到參考電壓（+V2）的電源的電壓比較裝置（96），一個當該積分裝置（40）輸出的電壓超過參考電壓（Vref）時，正常地出現一個有前緣的電壓脈沖的輸出（154）;次級電容裝置（44）包括一個放電電路（46）因此聯到該比較器裝置的輸出（154），以使在該電壓（圖3C）的該一定的延滯時間在該積分裝置（40）輸出超出該參考電壓（Vref）時，充電到閾值（Vth）以上;閾值傳感電路（48）用于感受所說的次級電容方式裝置（44），當其已充電到超過所說的閾值電壓（Vth），作為響應，提供一個信號（圖3E）以表明探得了沉積的碎屑。

6、據權利要求5的碎屑探測器，有以下特征該次級電容裝置（44）當加到該比較器（96）的初級輸入的電壓低于該參考電壓（Vref）時接通放電。

7、據權利要求5或6的碎屑探測器，有以下特征，該次級電容裝置（44）的充電通路包括電阻（46），該次級電容裝置（44）和該電阻（46）相聯使得他們的值決定所說的某一延滯時間。

8、據權利要求1、5或6中的任何一條的碎屑探測器，有以下特征，在該碎屑探測器中包括抑制裝置（58、60、66和70），用于在施加電流到該銳口（16）后的一段固定的時間內抑制該碎屑探測器。

9、據權利要求8的碎屑探測器，有以下特征，積分裝置（40）包括電容（54），抑制裝置（58、60、66和70）使該積分裝置電容器（54）放電。

10、據權利要求1、5至7或9的碎屑探測器，有以下特征，該電容裝置（34）上保持一個平均零電壓，該傳感裝置（28）包括放大裝置（36），這聯接到該電容裝置，以提供一個放大的電壓，這是該電容裝置（34）上所維持的電壓的放大形式;該積分裝置（40）有一輸入（55-2）由該放大的電壓提供，有一輸出（55-6）這幾提供一個積分的電壓，這一積分的電壓是該放大的電壓的積分形式，確定裝置（42、44、46和48）包括供給積分的電壓的輸入（96-2），有一輸出提供警報信號，這在積分的電壓的幅度在所說的一定的延滯時間后超過了一定的值（Vth）時發出，該警報信號（圖3C）表明所測得的碎屑至少部分地堵塞了狹口（16）。