[其他]帶疊層表面線圈系統的磁共振成象裝置

無效

• 申請號: 87108042
• 申請日: 1987-11-24
• 公開（公告）號: CN87108042A
• 公開（公告）日: 1988-06-08
• 發明（設計）人: 埃迪·本杰明·博斯肯普
• 申請（專利權）人: 菲利浦光燈制造公司
• 主分類號: G01N24/06
• 分類號: G01N24/06
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 林長安,許新根

本發明涉及一種磁共振成象裝置，該裝置有一個產生穩恒磁場所用的磁系統、一個產生梯度場所用的磁系統、一個射頻發射線圈和一個檢測待在待觀察的物體中產生的磁共振信號所用的射頻表面線圈系統。

這種裝置在歐洲專利EP????164164（PHN????11042）為已知。該專利所敘述的裝置有這樣一個缺點，即若表面線圈的制造是為改進檢測信號的信噪比使之達到所希望的水平而在該線圈對待觀察的物體沒有相對位移時，則只能測量出物體較小的一部分。

本發明的目的是在不致影響信噪比的情況下消除這種限制。為達到此目的，根據本發明提出的那種磁共振裝置的特征在于，該射頻表面線圈系統包括依次串聯聯接的表面線圈。

由于本發明的射頻線圈系統包括多個依次連接的線圈，因此在檢測時各個線圈的引人注目的信噪比被保持，因此通過轉接到線圈串中的下一個線圈仍然能夠完全測量大的物體。

在一個最佳實施例中，順序的線圈部分地重疊，以致在檢測時空間均勻性達到最佳程度。必要時，可以用兩個順序的線圈測量物體的邊界截面，并對任何偏差進行校正。舉例說，要測量物體較深的部位時，可以在物體的周圍對稱配置包括著成對的線圈組的線圈系統。為此，可以將線圈裝納在可配置在一待測量物體的周圍的例如柔質帶中?；蛘咭部梢裕纾瑢⒁粋€系統固定地連接到一物體載體上，而第二個系統則配置成可在該物體載體中擺動和移位。該線圈最好安裝得盡可能地彎曲成與物體的形狀很好地吻合。

在另一個最佳實施例中，該射頻線圈系統包括一些測量徑向截面所用的線圈，由于對一截面相繼的測量之間的終止時間，檢測信號的強度可能會有很大的差別。這個缺點可通過采用一種每次測量一個且相同的截面的一些部分的適配的測量方法而加以避免。

在另一個最佳實施例中，該射頻線圈系統包括串聯的蝶式線圈，以致當應用均勻的傳輸場時，每個線圈相對于傳輸場的干擾而言已經被其幾何形狀所去耦。當應用屋頂形蝶式線圈時，傳輸場的取向被限制在最佳方向上，以便保持自動去耦狀態。

下面參照附圖敘述本發明的一些最佳實施例。附圖中：

圖1示出按照本發明包括著一射頻線圈系統的磁共振成象裝置的示意圖，

圖2、3和4示出用于這種裝置的線圈系統的一些最佳實施例的示意圖。

圖1中所示的磁共振成象裝置包括產生穩恒均勻磁場所用的磁系統2、產生磁梯度場所用的磁系統4和分別為用于磁系統2和磁系統4的電源6和8。產生射頻交變磁場所用的磁線圈10，該線圈10被接到射頻源12上。表面線圈13是為檢測在待觀察的物體中由射頻傳輸場所產生的磁共振信號而設置的。為了讀出將線圈13連接到一信號放大器14。該信號放大器14連接到相敏檢波器16上，而該相敏檢波器16則連接到中央控制器18上。中央控制器18還控制著用于射頻源12的調制器20、梯度線圈的電源8和顯示器所用的監視器22。用一射頻振蕩器24控制該調制器20和相敏檢波器16，相敏檢波器16則處理測量信號。需要冷卻時，可設置包括著冷卻導管27的冷卻器26，這種冷卻器可制成用于冷卻電阻線圈所用的水冷卻系統或制成冷卻超導體線圈所用的液氦杜瓦系統。配置在磁系統2和4中的發射線圈10圍繞住測量空間28，在為醫療診斷設備的情況下，該測量空間28為病人提供足夠的空間。這樣，在該測量空間28中可產生一穩恒磁場、一用于待成象切片的位置選擇所用的梯度場和一在空間上均勻分布的射頻交變場。用一法拉第籠29將測量空間屏蔽以克服干擾場的影響。

根據本發明，在測量空間28中配置有串聯的表面線圈32，因此物體的所有切面，只要是在測量空間28所復蓋的范圍之內，都可以適當的信噪比測量出來而無需對物體或線圈作任何移動。這樣，在測量空間中的50厘米的整個長度上可能產生例如足夠精確地限定的梯度場和足夠空間均勻的傳輸場，在其中串聯聯接例如三個長度例如為20厘米的線圈就能進行跨過測量空間的整長度上的測量。在這種構造形式下，該串聯的線圈在該方向上重疊例如大約5厘米的距離。在實際情況下，我們發現，要保持充分的檢測均勻性，約2至5厘米的重疊是卓卓有余的。也可以這樣選擇重疊程度，使得兩線圈之間的互感最小。在實際情況中我們發現，這是在該給定的重疊程度下發生的。采用這種構造形式和測量方法，對任何截面測量所用的信號是由一個且相同的線圈提供的。這至多不過是在由兩個相繼的線圈的過渡截面的測量的可能性的附加條件下實現的。因此與普通方法相比，無需對測量方法作任何改動，而只需要轉換到下一個與待測量的截面的位置協調的線圈。