[其他]可擦光盤及帶有處理缺陷弧段的光信息記錄與再現裝置

無效

• 申請號: 87108158
• 申請日: 1987-12-19
• 公開（公告）號: CN87108158A
• 公開（公告）日: 1988-08-31
• 發明（設計）人: 佐藤勛;福島能久;高木裕司;東谷易
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/007
• 分類號: G11B7/007;G11B25/04
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 李強

本發明涉及一種可擦光盤和一種通過向光盤射一束激光束記錄和再現光信息的光信息記錄和再現裝置，更確切地說，涉及光盤缺陷弧段的處理。

一例光盤缺陷數據弧段的處理方法在JP-A-61-20271中公開。圖4顯示光盤中代換光軌的排列。參照圖4，光盤包括代換光軌A，記錄數據的普通光軌B，第二代換光軌區C，和其上記有地址的區域識別區D。能向包括圖4所示的代換光軌的光盤上記錄并從其中再現信息的光信息記錄與再現裝置包括一個區域地址再現電路，一個數據再現裝置，一個目標區地址寄存器，一個區域地址符合探測電路，一個數據門信號電路，一個數據再現門信號電路，一個探測缺陷弧段缺陷弧段探測電路，一個代換光軌設置電路，以及一個用以在缺陷弧段寫下識別信號的區域刪除門信號電路。

在具有上述結構，用以向具有圖4所示光軌功用的上述光盤上記錄并從其中再現光信息的光信息記錄和再現裝置中，當目標弧段地址寄存器21的輸出信號與弧段地址再現電路19的輸出信號符合時，弧段地址符合探測電路便產生一個符合信號。弧段地址符合探測電路22產生的符合信號被加到數據記錄門信號電路23或數據再現門信號電路24，并且，缺陷弧段區探測電路根據所加數據再現電路20的輸出信號或數據記錄門信號電路23的輸出信號或數據再現門信號電路24的輸出信號，通過探測如弧段識別區的弧段的一個地址錯誤或因翻譯一個錯誤探測與校準編碼在數據再現電路20中探得的錯誤校正子來探測缺陷弧段。當探測到一個這樣的缺陷弧段時，代換光軌設置電路26計算與缺陷弧段所屬的數據光軌相聯系的代換光軌，并且缺陷弧段區上的數據被記錄在代換光軌的一未用弧段上。接著，弧段區刪除門信號電路27在缺陷弧段的數據區改寫一刪除信號。在再現操作中，改寫在缺陷弧段的數據區的刪除信號被探測以表明缺陷弧段被代換光軌的一個弧段所代替。

因此，在上述光盤中，每個光軌單元都配有這樣一條代換光軌，以減少選取代換光軌的時間。

當具有上述光軌功用的光盤是其中同一數據弧段上的數據可重復消除與記錄的可擦光盤時，缺陷弧段探測電路25可通過探測弧段地址識別區的地址錯誤來探得缺陷弧段。但是，當缺陷在缺陷弧段的數據區時，因為記在數據區上的刪除信號不能在探測到弧段區地址識別區中的弧段地址之前被探測到，數據記錄在缺陷弧段的數據區。結果，上述這種光盤存在這樣一個問題，同一缺陷弧段的代換操作重復進行，并且，因此還需要為這一操作的額外處理時間，導致提取速度下降。

著眼于解決上述問題，本發明的一個目的提供一種帶標記弧段的光盤，在標記弧段中，缺陷扇區的地址和代替缺陷弧段的代換弧段的地址間的符合被記錄成標記數據，以提高用代換弧段代替缺陷弧段區的處理的速度。本發明的另一目的是提供一種使用這種光盤的光信息記錄和再現裝置。

根據本發明，提供有適于向各自分成多個弧段的光軌上記錄并從其中再現數據的光盤，光盤包括多個光軌區塊，每個光軌區塊包括在其上記錄數據的數據弧段，代換弧段，用以用一代換弧段代替一缺陷弧段，以及至少一個標記弧段，用以記錄表示缺陷弧段和代替缺陷弧段的代換弧段間的地址符合的標記數據。根據本發明還進一步提供有采用上述光盤的光信息記錄和再現裝置，裝置包括用以向光盤弧段上記錄并從其中再現數據的裝置，用以向探測和校正發生在任一數據中的錯誤的數據上加一錯誤探測及校準編碼的錯誤控制裝置，用以探測在任一區塊中的缺陷弧段的缺陷弧段探測裝置，用以存儲記錄在標記弧段上的標記數據的記憶裝置，和響應缺陷弧段探測裝置對一區塊中一缺陷弧段的探測，用以在儲存在記憶裝置中的標識數據的基礎上，用一代換弧段代替探得的缺陷弧段的弧段代換裝置。

這樣，在本發明中具有上述結構的光信息記錄與再現裝置采用具上述弧段功用的光盤，表示某一區塊中的一缺陷弧段的地址信息與代替該缺陷弧段的代換弧段的地址信息間的符合的標記數據被記錄在用一區塊中的標記弧段中，所以，在數據再現或數據重寫時，代換弧段的地址信息可從代換弧段所在區塊的標記弧段得到，并且數據能高速地從代換弧段再現或在其上重寫。

圖1是根據本發明的光信息記錄與再現裝置的一最佳實施方案的框圖。

圖2是適用于圖1中所示的本發明的裝置的光盤的第一個實施方案的結構圖。

圖3是適用于圖1中所示的本發明的裝置的光盤的第二個實施方案的結構圖。

圖4顯示已有技術的光盤中代換光軌的排列。

最佳實施方案的描述：