[其他]電工測(cè)試用A/D轉(zhuǎn)換模板

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 87201176
• 申請(qǐng)日: 1987-03-30
• 公開（公告）號(hào): CN87201176U
• 公開（公告）日: 1987-12-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林在榮
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 機(jī)械委上海電器科學(xué)研究所
• 主分類號(hào): G01R21/13
• 分類號(hào): G01R21/13;G01R15/00
• 代理公司: 中國(guó)科學(xué)院上海專利事務(wù)所
• 代理人: 白璧華

1、一種電工測(cè)試A/D轉(zhuǎn)換模板，包括電子開關(guān)、隔離放大器和A/D芯片，其特征在于它將電壓、電流為兩個(gè)通道，即電子開關(guān)Su[9]、A/D-U芯片[2]、光電耦合器[4]為一路，電子開關(guān)Si[8]、A/D-I芯片[1]、光電耦合器[3]為另一路，並配有同步電路[7]和脈沖變壓器[5]、[6]，其接配關(guān)系為：A/D-I芯片[1]的輸入側(cè)與多路電子開關(guān)S1[8]連接，輸入側(cè)的另一線接地，輸出側(cè)與光電耦合器[3]相接，A/D-I還分別與脈沖變壓器[6]的次級(jí)線卷、同步電路[7]的輸出級(jí)相接，A/D-U芯片[2]的輸入側(cè)與多路電子開關(guān)Su[9]、同步電路[7]相接，另一線接地，其輸出側(cè)與光電耦合器[4]相接，A/D芯片還分別與脈沖變壓器[5]的初級(jí)線卷和同步電路[7]輸出級(jí)相接。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的A／D轉(zhuǎn)換模板，其特征在于光電耦合器S₁〔3〕中，在光電耦合級(jí)〔3－1〕與鎖存級(jí)〔3－3〕中間插入一整形電路〔3－2〕，在光電耦合級(jí)〔4－1〕與鎖存級(jí)〔4－3〕中間插入一整形電路〔4－2〕，其傳輸比均為20～30％。