[其他]變溫霍爾實驗儀

無效

• 申請號: 87207793
• 申請日: 1987-05-09
• 公開（公告）號: CN87207793U
• 公開（公告）日: 1988-03-23
• 發明（設計）人: 于耀川;徐壽定;范東華;胡長有;周仁楷;李瑞云;李平江
• 申請（專利權）人: 東北師范大學科教儀器廠;中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G01R33/06
• 代理公司: 吉林省專利服務中心
• 代理人: 江山,單兆全

屬于教學科研儀器類。

霍爾試驗儀是學校測定、表演實驗的重要教學儀器，也是工廠科研單位試驗、測定不可缺少的工具。主要是對半導體材料的霍爾系數、遷移率、載流子濃度等參數測定。

現有的霍爾效應實驗儀，只能測定室溫情況下半導體材料的主要參數。而不能同時測定在不同溫度情況下的主要參數。

本實用新型的變溫霍爾實驗儀，可以不受室溫的限制。在絕對溫度77K－400K的范圍內。隨時對半導體材料各種參數的測試，還可以對金屬和非金屬材料的電學和光學性能的測試。

見圖1、變溫霍爾實驗儀，主要由微機1、打印機2、恒溫器3、樣品和電磁鐵恒流源4、真空子系統5、冷卻裝置6、磁場7等部分組成，在恒溫器內有加熱器和溫度感溫器。

恒溫器（即杜瓦瓶）具有保溫作用，冷卻裝置用液態氮對其冷卻，可使恒溫器內的絕對溫度最低降到77K。

恒溫器中的溫度感溫器與微機程序控制相連。溫度每間隔5℃、微機使受其控制的磁場磁極極性改變一次、被測樣品的電流方向改變一次。這樣，于同一溫度，在不同電流方向、不同磁極方向的情況下，對樣品分別進行四次測試。然后取四次測試值的代數和的平均值。在測試過程中，微機、打印機、將測得的數據貯存並打印下來。之后微機又使受其控制的加熱元件加熱，使恒溫器內的溫度再升高5℃，又重復上述的測試。這樣就能獲得樣品從絕對溫度77K－400K，再間隔5℃被測試的結果，並通過微機數據處理貯存和打印出圖表來，即打印出tgR與 1/(T) 和tgδ與 1/(T) 的曲線圖，在間隔隔5℃的曲線圖相應各點打印出測試的數據。