[其他]氣壓掃描半導體激光器線寬測試儀無效
| 申請號： | 87208603 | 申請日： | 1987-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN87208603U | 公開（公告）日： | 1988-05-11 |
| 發明（設計）人： | 汪開源;高中林;章建洛;孟曉晶 | 申請（專利權）人： | 南京工學院 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 南京工學院專利事務所 | 代理人： | 樓高潮,沈廉 |
| 地址： | 江蘇省南京*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 氣壓 掃描 半導體激光器 測試儀 | ||
【權利要求書】：
1、氣壓掃描半導體激光器線寬測試儀由望遠鏡系統、F-P標準具和氣壓室等組成，其特征在于F-P標準具放在一個密封氣壓空中，控制氣壓室(3)中氣體變化的氣壓控制系統(9)與氣壓室相通，氣壓室還與反映氣壓信號的壓力傳感器(5)相連。
2、根據權利要求1所述的線寬測試儀，其特征在于氣壓控制系統（9）由濾球（9a）、凡爾（9b）、針閥（9c）和機械泵（9d）組成，并通過導管與氣壓室（3）相連接。
3、根據權利要求1或2所述的線寬測試儀，其特征在于氣壓室（3）、望遠鏡系統（2）、壓力傳感器（5）、道軌（14）和氣壓控制系統（9）的濾球（9a）、凡爾（9b）及針閥（9c）做成一體，壓力傳感器（5）采用力敏硅杯，并且安裝在靠近F－P標準具（4）的位置；望遠鏡系統（2）采用單孔普通望遠鏡。
4、根據權利要求3所述的線寬測試儀，其特征在于F－P標準具（4）采用三個測量不同波段的F－P標準具（4a）、（4b）和（4c）組成，三者并排固定在氣壓室（3）內，可以前后平行移動。
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