[其他]軟態密封墊內徑檢測裝置

無效

• 申請號: 87213808
• 申請日: 1987-09-27
• 公開（公告）號: CN87213808U
• 公開（公告）日: 1988-05-18
• 發明（設計）人: 王保鈞
• 申請（專利權）人: 西安儀表廠
• 主分類號: G01B3/46
• 分類號: G01B3/46;G01B11/08
• 代理公司: 陜西省機械工業專利事務所
• 代理人: 鮑燕平,潘憲曾

本實用新型是一種用于測量軟態密封墊內徑的檢測裝置。

目前，一般檢測軟態密封墊的內徑，在大批量生產產品檢查中，采用卡尺或園柱塞規的方法，但由于軟態密封墊一般具有形狀不固定、受測量力后變形大的特點，利用卡尺、塞規測量無法得到精確的量值、誤差大、誤判率高，而且在密封墊成形加工時，實際壓制收縮率與理論壓制收縮率有一定的誤差，由于不能得到精確量值，只有反復修整模具，進行試驗，甚至重新制造模具，才能得到合乎尺寸要求的密封墊，這樣，造成時間上，經濟上的浪費。

本實用新型的目的，是為了克服上述困難，即在最大限度地減少測量力影響基礎上，通過比例放大關系，為生產軟態密封墊的現場測量，提供簡單、經濟而精確的手段。

本實用新型以一種有錐度測量軸及由螺紋軸套（4）、外罩導套（5）、定位盤（6）、微調帽（7）、基準套（17）、標尺（18）、刻度圈（19）組成的螺旋微調測量讀數裝置，在測量時對軟態密封墊進行整形和測量。并有一個由光源（15）、暗室（20）、光敏電阻（9）、微安表（8）組成的光電轉換裝置，控制錐度測量軸（1）與被測工件（2）之間的光隙趨近于零時，微安表（8）顯示出預定的暗電流數值，以獲得微米級的精確量值。

本實用新型的解決方案如附圖：

用錐度測量軸（1）作為量規，將被測軟態密封墊（2）從錐度測量軸（1）的小端套入，靠其重力自然下滑，至不動時用手柄（3）旋轉螺紋軸套（4），通過外罩導套（5）快速進給，使定位盤（6）下移至接近密封墊（2）時，停止快速進給。用手慢慢轉動微調帽（7），使定位盤（6）輕輕壓住密封墊（2）進行整形，使其端面與錐度測量軸（1）的中心線垂直，并慢慢下移，使被測量密封墊（2）與錐度測量軸（1）之間的間隙由大到小，至趨近于零時，則被測密封墊（2）實體水平中心線所對應的錐度測量軸（1）的直徑，則為該密封墊（2）的實測內徑值。

測量結果的顯示，首先利用錐度測量軸（1）的高度與直徑的函數關系，將內徑測量轉換為高度測量，并直接進行了一級放大，然后再經過標尺（18），螺紋軸套（4）、外罩導套（5）、刻度圈（19），進行二次放大，并讀出被測密封墊的實測內徑值。

為了更精確的測量，首先通過試驗，由光電轉換系統讀出暗室的暗電流數值作為給定值。當密封墊（2）與錐度測量軸（1）之間的間隙趨近于零時，則形成暗室（20），隨著間隙的減少，燈泡（15）的光透過間隙的亮度逐漸減弱，一直到微安表（8）的讀出值與給定暗電流值相等時，則說明間隙趨近于零，獲得精確測量。

暗室（20）由黑玻璃（10）、上蓋（11）、螺紋軸套（4）、定位盤（6）錐度測量軸（1）和被測密封墊（2）組成。

光源裝置由電源插頭（12）、開關（13）、燈座（14）、燈泡（15）和底座（16）組成。