[其他]在自動分析裝置上進行的光學測定法及其裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 88100938
• 申請日: 1988-02-15
• 公開（公告）號: CN88100938A
• 公開（公告）日: 1988-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 若竹孝一;藤岡秀彥
• 申請（專利權(quán)）人: 尼垣庫株式會社
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25
• 代理公司: 上海專利事務所
• 代理人: 王麗川

1、一種在自動分析裝置上進行的光學測定法，其特征在于，使所需數(shù)目的反應管的反應管支撐架轉(zhuǎn)動，在光學測定位置上對上述各反應管內(nèi)樣品和試劑的化學反應狀態(tài)進行光學測定，在具有這種結(jié)構(gòu)的自動分析裝置的光學測定法中，用通過轉(zhuǎn)動機構(gòu)往復轉(zhuǎn)動控制的光柵，使上述測定光變成對應于測定項目的單一波長光，用該單一波長光對空氣層和反應液的光透射率進行光學測定。

2、在權(quán)利要求1中所述的自動分析裝置上進行的光學測定法，其特征在于，對上述反應液的測定值的光源亮度的補償及反應管之間光透射率偏差的補償是以光學測定位置之前用上述單一波長光測定的空氣層光透射率和裝入有凈水的同一反應管光透射率為基準而進行的。

3、在權(quán)利要求1或2中所述的自動分析裝置上進行的光學測定法，其特征在于，把上述測定波長分成幾組，用按各波長組配設(shè)的放大器來放大輸入給光電流電壓變換裝置的測定光，并放大輸入給多路調(diào)制器。

4、一種在自動分析裝置中的光學測定裝置，其特征在于，自動分析裝置有以下幾部分構(gòu)成，即固定所需數(shù)目的反應管的反應管支撐架、使這個反應管支撐架轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動機構(gòu)、通過轉(zhuǎn)動使該反應管支撐架經(jīng)過光學測定位置測定反應管吸光度的光學測定裝置，在該自動分析裝置的光學測定裝置上，通過由轉(zhuǎn)動機構(gòu)進行往復轉(zhuǎn)動控制的光柵，在用上述光學測定裝置的測定光照射反應管之前選擇對應于測定項目的單一波長光，用這個選擇的單一波長光照射空氣層和反應管，比較該空氣層和反應液的光透射率，以便進行比色光學測定。

5、在如權(quán)利要求4所述的自動分析裝置中的光學測定裝置，其特征在于，對前述反應液的測定值的光源亮度的補償及反應管間光透射率偏差的補償，是以光學測定位置之前用上述的單一波長光所測定的空氣層光透射率以及裝有凈水的同一反應管光透射率為基準而進行的。

6、在權(quán)利要求4或5所述的自動分析裝置中的光學測定裝置，其特征在于，把上述測定波長分成幾組，通過按各波長組配設(shè)的放大器來放大輸入給光電流電壓變換裝置的測定光并輸入給多路調(diào)制器。