[其他]一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 101985000002013 | 申請日： | 1985-07-03 |
| 公開（公告）號： | CN85102013B | 公開（公告）日： | 1988-04-20 |
| 發(fā)明（設計）人： | 宋俊峰 | 申請（專利權(quán)）人： | 宋俊峰 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 北京科技專利事務所 | 代理人： | 郭佩蘭;谷勝斌 |
| 地址： | 北京市106*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊及其制造方法，現(xiàn)有的校準樣塊無法標出輪廓的起點，只能校驗觸針式量儀的Ｒａ值（０．１５μｍ～１．５μｍ）。本發(fā)明采用研磨工藝，在光滑參考基準平面的中部分段加工出具有單向隨機輪廓的測量區(qū)域。利用光滑參考基準平面和測量區(qū)域的交線來標出單向隨機輪廓的起點，Ｒａ值可達０．０１５μｍ～１．５μｍ。除可用于校驗觸針式量儀的Ｒａ值外，還可對各種粗糙度量儀、測試方法的測量參數(shù)和輪廓圖形進行標定和比對。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 一種 隨機 輪廓 表面 粗糙 校準 及其 制造 方法 | ||
【主權(quán)項】：
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