[其他]檢驗鈮酸鋰或鉭酸鋰單晶質量的方法在審
| 申請號: | 101987000000213 | 申請日: | 1987-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN1004445B | 公開(公告)日: | 1989-06-07 |
| 發明(設計)人: | 李杰 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 同濟大學專利事務所 | 代理人: | 譚震威;徐曉群 |
| 地址: | 上海市四平*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 一種檢驗鈮酸鋰或鉭酸鋰單晶質量的方法,其特征是采用超聲脈沖回波測試技術,通過插入損耗檢測法,聲衰減檢測法,回波圖形畸變檢測法這三種方法來檢驗晶錠的任意區域的質量,以及通過掃描方法檢驗晶錠整體質量的均勻性。適用于晶體質量檢驗:晶體生長工藝,晶體極化工藝的研究。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 檢驗 鈮酸鋰 鉭酸鋰單晶 質量 方法 | ||
【主權項】:
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