[其他]測量高反射率的方法和裝置無效
| 申請號： | 85101719 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85101719A | 公開（公告）日： | 1986-08-13 |
| 發明（設計）人： | 王占青;陳奮飛;周秀良 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中國科學院長春專利事務所 | 代理人： | 劉樹清 |
| 地址： | 吉林省長*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本發明是在光譜光度計上加對稱諧振腔多次反射裝置測量鏡面高反射率的方法和裝置。對稱諧振腔放在可定位轉動180°的圓盤上，高反射率是通過公式求得。本方法對樣品放置精度要求不高。測量高反射率最佳方案可采用對稱雙光路結構。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測量 反射率 方法 裝置 | ||
【主權項】：
1、一種測量高反射率的方法，是多次反射測量的方法，其特征在于多次反射測量方法采用對諧振腔多次反射結構α。
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