[其他]磁光效應聯合測試儀無效
| 申請號: | 85103001 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85103001B | 公開(公告)日: | 1987-12-23 |
| 發明(設計)人: | 王煜明;孟昭富;夏思科 | 申請(專利權)人: | 吉林大學 |
| 主分類號: | G01N21/21 | 分類號: | G01N21/21 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 吉林省*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | 本發明是用于科研、生產檢測和教學的磁光效應聯合測試儀器。由于使用了半透鏡,并配合對部件的新設計,使本發明的儀器能夠測量光盤介質等磁光效應材料的純極向柯爾磁光效應偏轉角,并能夠用同一光束同時對試樣測得柯爾磁光效應偏轉角和法拉弟磁光效應偏轉角。這些都對光盤等材料的科學研究和生產檢測非常有用。本發明配以其他設備,可對試樣進行磁滯回線、居里溫度等的測量??傊?,本發明的儀器具有純極向、多功能、使用方便、測試準確等優點。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 磁光效應 聯合 測試儀 | ||
【主權項】:
1.一種用于磁光效應材料檢測用的磁光效應聯合測試儀,它由光源、起偏鏡、電磁鐵、試樣架、檢偏鏡、讀數盤和光強檢測系統組成。本發明的特征是在檢偏鏡〔A〕與電磁鐵〔4〕之間放置一個半透鏡〔3〕,并且使用的電磁鐵〔4〕開有S極小孔〔6〕和N極小孔〔7〕。在電磁鐵的一側安放檢測柯爾磁光效應用的檢偏鏡〔A〕、讀數盤〔B〕、光強檢測系統〔D〕;在電磁鐵的另外一側安放檢測法拉弟磁光效應用的檢偏鏡〔a〕、讀數盤〔b〕、光強檢測系統〔d〕。從而用一束光同時實現柯爾磁光效應與法拉弟磁光效應的聯合測試。并保證了柯爾磁光效應偏轉角的測定為純極向效果。本儀器各部件排列順序是:光強檢測系統〔D〕,讀數盤〔B〕,檢偏鏡〔A〕,半透鏡〔3〕,電磁鐵〔4〕,檢偏鏡〔a〕,讀數盤〔b〕,光強檢測系統〔d〕依次排列安放在同一條導軌上,試樣架〔5〕安放在電磁鐵〔4〕的N,S極之間,而光源〔1〕和起偏鏡〔2〕放置在上述導軌之外。由光源〔1〕發出的光,經起偏鏡〔2〕照射到半透鏡〔3〕上。半透鏡〔3〕的鏡面放置在合適的角度上,以保證從半透鏡反射的光束穿過電磁鐵〔4〕的S極小孔〔6〕,垂直照射到試樣架〔5〕上面的試樣上,一部分光經試樣透射并穿過電磁鐵〔4〕的N極小孔〔7〕,再穿過檢偏鏡〔a〕和讀數盤〔b〕的軸心小孔〔e〕,照射到光強檢測系統〔d〕上,從而檢測法拉弟磁光效應經試樣反射的一束光按原光路返回,透過半透鏡〔3〕、檢偏鏡〔A〕、讀數盤〔B〕的軸心小孔〔E〕,照射到光強檢測系統〔D〕上,從而檢測柯爾磁光效應。
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