[其他]測量固體表面速度變化的光干涉儀無效
| 申請號： | 85104475 | 申請日： | 1985-06-07 |
| 公開（公告）號： | CN85104475B | 公開（公告）日： | 1988-09-21 |
| 發明（設計）人： | 張仲先 | 申請（專利權）人： | 浙江大學 |
| 主分類號： | G01S17/58 | 分類號： | G01S17/58 |
| 代理公司： | 浙江大學專利代理事務所 | 代理人： | 陳禎祥 |
| 地址： | 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一種測量固體表面速度變化的光干涉儀。儀器中設置兩條長短不同的光路系統，光源發出的光分別經過它們，以時間差τ值先后射到被測表面，當它們從表面返回干涉系統時，應用光的偏振特性，使之各自經過與入射光路長短相反的路徑到達光電探測器，于是消除時間差τ而實現等光程干涉，干涉條紋的變化正比于表面速度的變化。測速變化范圍3m/s-1000m/s，本發明具有量程大，成本低，使用方便的優點。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測量 固體 表面 速度 變化 干涉儀 | ||
【主權項】：
1.一種測量固體最面速度變化的光干涉儀，由光源、起偏振器、干涉系統、光電探測器及信號檢測系統所組成，本發明特征是從光源〔1〕發出的光，經干涉系統〔3〕分成兩束，它們分別經長光路系統和短光路系統，並先后到達固體表面〔5〕，其間具有可視為固定的時間差值τ，此兩束光從表面〔5〕反射回干涉系統時，各自經過與入射光路長短相反的光路系統並到達光電探測器〔8〕。
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