[其他]狀態分析的方法和裝置無效
| 申請號： | 85104863 | 申請日： | 1985-06-25 |
| 公開（公告）號： | CN85104863B | 公開（公告）日： | 1988-05-04 |
| 發明（設計）人： | 副島啟義 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N23/225 | 分類號： | G01N23/225;H01J37/252 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 吳磊 |
| 地址： | 日本京都*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | 樣品中元素狀態的分析方法由下列幾步組成首先用一個激發源去照射元素；然后在兩個預先選擇的波長處探測測量點產生的特征X射線的強度，這兩個波長的選擇是根據所分析的元素狀態決定的；對于一些測量是比較它們在兩個波長上的特征X射線強度比，以便提供落在根據元素狀態選擇的探測范圍中所測到的強度比；僅僅對這些測量點輸出狀態探測信號以使獲得一個線性分析或二維掃描圖象。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 狀態 分析 方法 裝置 | ||
【主權項】：
1.分析樣品中某種元素狀態的方法的特征是該方法包括下列步驟：用激發源去激發元素；探測根據被分析元素狀態預先選擇的兩個波長上測量點產生的特征X射線強度；比較某些測量點在兩個波長上特征X射線強度比，規定了落在根據元素的狀態而選擇的范圍內的強度比；以及輸出僅在上述這些測量點探測到的狀態探測信號，以便獲得線分析或一個二維掃描圖象。
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