【主權項】：

1.一種非接觸式微波測量半導體材料少子壽命的裝置，由微波源、光源、測試頭子及微波檢測器四部分組成，本發明的特征在于：該裝置的測試頭子由以下三個部件組成：a.上部件[1]，其水平方向上的一端是一個呈尖劈形的介質波導一波導過渡，它接在檢波器波導[7]的波導口內，上部件的中間為矩形截面的介質波導，它的另一端是一個直角彎角，彎角與測試平臺的臺面垂直，在彎角的垂直部分開有一個上大下小的穿通圓孔[2]，圓孔的上方為光源[9]，垂直部分的底端為帶圓孔的矩形測量面。b.下部件[4]的頂端與上部件[1]的垂直部分的底端的截面大小相同、位置對準，中間為同樣截面的矩形介質波導，下部件[4]的另一端為一個呈尖劈形的波導一介質波導過渡，它接在與微波源相連的衰減器波導[6]的波導口內。c.放置樣品的介質測試平臺[3]，位于上部件彎角的垂直部分的底端和下部件[4]的頂端之間：測試平臺[3]的下方開有一個大于下部件[4]中介質波導矩形截面的圓型或矩形凹穴，用以容納下部件[4]的介質波導，上方為一放置待測樣品[5]的平面。