[其他]π尺精度的模擬圓檢測方法及裝置無效
| 申請號： | 86106636 | 申請日： | 1986-09-22 |
| 公開（公告）號： | CN86106636A | 公開（公告）日： | 1987-04-29 |
| 發明（設計）人： | 于若愚;李延增;于洪珍;關成義 | 申請（專利權）人： | 沈陽市工具研究所 |
| 主分類號： | G01B5/02 | 分類號： | G01B5/02;G01B5/08 |
| 代理公司： | 沈陽市專利事務所 | 代理人： | 張憲恩 |
| 地址： | 遼寧省沈陽市*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | 本發明提供了一種簡單易行的檢測π尺精度的方法和裝置——模擬圓檢測方法和裝置。本發明的特點是將被測π尺展開成直線狀態，與標尺重疊在一起進行比較，并模擬在圓上的讀數方法，檢測出π尺的任意示值，代替了標準圓檢測π尺精度的方法。在常溫下，達到高精度檢測的目的。模擬圓檢測π尺的裝置結構簡單，使用方便，成本低，精度高。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 精度 模擬 檢測 方法 裝置 | ||
【主權項】：
1、一種常溫下檢測π尺精度的方法，其特征在于：a.將π尺[5]在長度方向上展開成直線，與一標尺[4]重疊比照，從標尺[4]上讀出數值，來檢測任意π尺任意示值的誤差；b.標尺[4]檢測π尺[5]的讀數方法采用π尺檢測工件的讀數方法；c.在檢測時，標尺[4]和被測π尺[5]各掛一個重錘[6]、[8]，保持與實際檢測時等效的拉力。
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