[其他]參比式高分辨率多用激光光學分析儀無效
| 申請號： | 86106782 | 申請日： | 1986-10-11 |
| 公開（公告）號： | CN86106782A | 公開（公告）日： | 1988-04-20 |
| 發明（設計）人： | 張武 | 申請（專利權）人： | 西北工業大學 |
| 主分類號： | G01N21/00 | 分類號： | G01N21/00;G01N21/17 |
| 代理公司： | 航空工業部專利事務所 | 代理人： | 李致寧,陳亞莉 |
| 地址： | 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | 本發明通過參比光路光強I.、正交偏光光強I或平行偏光光強I‖提出了新的計算光程差的公式，并發明了新的測試方法。本發明所提供的設備把雙折射和吸光度等物理光學參數的測量小至50μm微區。本發明又是一臺光學顯微鏡，不僅可以對材料微區的各向異性和吸光度進行定量分析、描繪等色線、等傾線和等吸光度線，分析其結構形貌，進行小角激光光散射實驗，還可對薄而透明的試樣及厚度大透光度差的試樣進行測試。可應用于醫學、高分子，礦物晶體和光測彈性力學等領域。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 高分辨率 多用 激光 光學 分析 | ||
【主權項】：
1、1984年，美國光學學會雜志《應用光學》(APPLIEDOPTICS/Vo123No21/1Novenmber1984)談到一種被認為是先進的雙折射測量方法及其儀器，其方法是先測出激光的垂直偏振光強Ⅰ⊥，再測出激光的平行偏振光強Ⅰ11，按下公式求出被測物的光程差R來：|R|=Nπ+2Tan-1I┴/I11N=0,2,4,……（1）｜R|=(N+1)π-2Tan-1I┴/I11N=1,3,5,……（2）其結構是：一個光電轉換器、一個激光光源、起偏鏡、檢偏鏡、顯示器及記錄裝置。本發明在方法上的特征是，為消除系統中各不穩定因素帶來的誤差，引入參比計算方法計算光程差，為測量微區(直徑為微米數量級的區域)光程差引入光強法分辨率法，并由此引入跟蹤法確定各點主應力方向、等傾線、等色線和程差級序。
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