[其他]測試生長法無效
| 申請號： | 86107798 | 申請日： | 1986-11-15 |
| 公開（公告）號： | CN86107798A | 公開（公告）日： | 1987-05-20 |
| 發明（設計）人： | 安吉洛·C·J·洪;弗朗西斯·C·王 | 申請（專利權）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/08;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 肖春京 |
| 地址： | 美國俄*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | 一種用以提供適用于測試超大規模集成電路器件的測試向量方法，包括測量可測試性的步驟，它應用測試計數過程以提供多個測試計數矩陣。然后從輸入端處開始通過電路前向地和后向地驅動各自的敏感值，來枚舉敏感值，直到累積到所需測試計數為止。枚舉法規定的測試向量能測試實際的電路。如果電路包括再匯聚扇出回路，則這些回路在隨后的全局枚舉期間首先被枚舉以提供所采用的部分解答。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測試 生長 | ||
【主權項】：
1、一種用于測試一個集成電路網絡的一組測試向量的確定方法，所說集成電路網絡包括多個門電路，門電路被互連在包括所說集成電路網絡的輸入和輸端的節點處，這種方法用以揭露所說網絡中的預定種類的故障，其特征在于下列步驟：根據一種測試計數過程測量所說集成電路網絡的可測試性，這個過程包括通過該網絡的介入門電路從輸入端前向至主輸出端又后向返回到所說輸入端的敏感測試計數的傳輸，以便為包括所說輸入和輸出端的所說網絡節點提供測試計數矩陣，通過連續多次從所說輸入端處的測試計數矩陣前向驅動各個敏感值至一所說輸出端又后向返回到所說輸入端，從所說矩陣枚舉測試計數，以便在所說節點累積為所說矩陣所敘述的測試計數，以及分開存儲一組敏感值，所說輸入端每一次都被驅動到這些敏感值，各組都包括所說網絡的測試向量。
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