[其他]功率半導體器件的電極引出技術無效
| 申請號: | 86109631 | 申請日: | 1986-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN86109631A | 公開(公告)日: | 1988-07-20 |
| 發明(設計)人: | 呂征宇 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H01L21/88 |
| 代理公司: | 浙江大學專利代理事務所 | 代理人: | 陳楨祥 |
| 地址: | 浙江省杭*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | 本發明通過制作一組導電、絕緣薄膜,對半導體器件芯片表面電極進行有選擇的電鍍,并在電鍍層上加金屬壓塊或焊接引線。從而構成完整的主電極引出工藝。本發明能滿足可關斷晶閘管(GTO)一類器件精細的多個孤立主電極的并聯引出要求,也可同樣方便地用于巨型晶體管(GTR)、門極輔助關斷晶閘管(GATT)等一般功率半導體器件的制造工藝。本發明可采用平面工藝,允許有較高集成度。使用設備簡單、成本低廉、可靠性好,并適合于大批量生產。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 功率 半導體器件 電極 引出 技術 | ||
【主權項】:
1、一種功率半導體器件的電極引出工藝,本發明特征是,在功率半導體器件芯片上制作各電極的導電基底層,此芯片上再加絕緣介質膜作為隔離層,隔離層開有窗口,窗口位置與各單元主電極基底層一一對應,以保證主電極電流基本垂直地流過基底層,在隔離層上面有一連通導電薄膜作為連通層,使連通層與隔離層窗口內的主電極基底層連通,連通層上加絕緣介質膜作為電鍍屏蔽層,在屏蔽層選定部位開窗,即電鍍窗,在屏蔽層下電鍍窗位置有一金屬膜作為電鍍底層,以芯片上連通層作為電鍍陰極的連接導體,放在電鍍槽內電鍍金屬層,再除去屏蔽層和電鍍窗外的連通層、隔離層(如作為鈍化膜,則可保留),最后在電鍍層上加導電、導熱性能良好的平整金屬壓塊以壓接方式封裝,從而構成完整的主電極并聯引出結構,芯片的其它電極可以采用各種常規方法引出。
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H01 基本電氣元件
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





