[其他]超快變電場的測量系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 87101030 | 申請日: | 1987-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN87101030A | 公開(公告)日: | 1988-11-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高福源;陳淑琴 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所;陳淑琴;支婷婷;陳蘭榮;邱佩華 |
| 主分類號: | G01R13/40 | 分類號: | G01R13/40;G01R29/00 |
| 代理公司: | 中國科學(xué)院上海專利事務(wù)所 | 代理人: | 李蘭英,張澤純 |
| 地址: | 上海市8*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 本發(fā)明提供一種超快變電場的測量系統(tǒng)。其特征是在聚焦系統(tǒng)和成像系統(tǒng)之間放入由起偏振器、普克爾盒和檢偏振器組成的電光開關(guān)。被測脈沖信號加在電光開關(guān)上。超短脈沖發(fā)射光源發(fā)射一束光脈沖作為基礎(chǔ)光束,由同步裝置控制基礎(chǔ)光束光脈沖和被測脈沖信號在電光開關(guān)內(nèi)相遇。成像在探測器接收面上的光能量分布曲線就是被測信號隨時(shí)間變化的曲線。本發(fā)明的測量系統(tǒng)能夠測量超快變電場和光脈沖隨時(shí)間變化的波形、測量的時(shí)間分辨率高于10-12秒。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 超快變 電場 測量 系統(tǒng) | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所;陳淑琴;支婷婷;陳蘭榮;邱佩華,未經(jīng)中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所;陳淑琴;支婷婷;陳蘭榮;邱佩華許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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