[其他]測量離子濃度及其類似的方法、刻度片及其中使用的測量裝置的刻度方法無效
| 申請號： | 87107352 | 申請日： | 1987-12-10 |
| 公開（公告）號： | CN87107352A | 公開（公告）日： | 1988-06-22 |
| 發明（設計）人： | 小谷晴夫;富田勝彥 | 申請（專利權）人： | 株式會社堀場制作所 |
| 主分類號： | G01N27/26 | 分類號： | G01N27/26;G01N1/30 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 趙蓉民 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | 本發明是測量離子濃度及其類似量的方法、刻度片以及其中使用的測量裝置的刻度方法。當只有少量的被測樣品能夠被取樣時，本方法也能有很高的準確度，而且不用取樣器械，不需進行復雜的預處理，測量也能可靠地進行。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測量 離子 濃度 及其 類似 方法 刻度 其中 使用 裝置 | ||
【主權項】：
1、一種測量離子濃度及其類似量的方法，其特征在于：樣品中的離子濃度及其類似量的測量是利用浸漬一塊容易吸收帶有樣品的溶液的材料，然后，把上述容易吸收溶液的材料拿來與測量部分相接觸而完成的。
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