[發明專利]可靠性的校驗方法、裝置、存儲介質及電子裝置

在審

• 申請號: 202210033923.1
• 申請日: 2022-01-12
• 公開（公告）號: CN114416448A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 吳志豪
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙靜

1.一種可靠性校驗的方法，其特征在于，包括：

控制待檢測設備第i次上電，其中，所述待檢測設備上連接有多個外設，所述i大于或等于1；

讀取所述待檢測設備發送的第i個日志文件集合，其中，所述第i個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；

根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i次校驗結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到第i次校驗結果之后，所述方法還包括：

在所述第i次校驗結果中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備保持所述第i次上電；或者，

在所述第i次校驗結果中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備下電。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述控制所述待檢測設備下電之后，所述方法還包括：

控制所述待檢測設備第i+1次上電，并讀取所述待檢測設備發送的第i+1個日志文件集合，其中，所述第i+1個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；

根據所述第i+1個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i+1次校驗結果。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述得到第i+1次校驗結果之后，所述方法還包括：

在所述第i+1個日志文件集合中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備下電；或者，

在所述i+1等于N的情況下，控制所述待檢測設備下電，其中，所述N是控制所述待檢測設備上電的最高次數，N大于1。

5.根據權利要求2至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述多個外設中的目標外設出現所述校驗錯誤的情況下，將與所述目標外設對應的目標計數值加一。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，包括：

對所述第i個日志文件集合中的每個日志文件執行以下操作，在執行以下操作時，每個日志文件為當前日志文件：

將所述當前日志文件與對應的預設日志文件進行匹配；

在所述當前日志文件與所述對應的預設日志文件匹配的情況下，將所述當前日志文件對應的外設確定為校驗成功的外設；

在當前日志文件與所述對應的預設日志文件不匹配的情況下，將所述當前日志文件對應的外設確定為校驗錯誤的外設。

7.一種可靠性校驗的系統，其特征在于，包括：

待檢測設備，所述待檢測設備與多個外設連接，用于獲取所述多個外設的日志文件；

工裝板，用于控制待檢測設備第i次上電，并讀取待檢測設備發送的第i個日志文件集合，其中，所述第i個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i次校驗結果。

8.一種可靠性校驗的裝置，其特征在于，包括：

控制模塊，用于控制待檢測設備第i次上電，其中，所述待檢測設備上連接有多個外設，所述i大于或等于1；

讀取模塊，用于讀取所述待檢測設備發送的第i個日志文件集合，其中，所述第i個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；

校驗模塊，用于根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i次校驗結果。

9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，其中，所述程序可被終端設備或計算機運行時執行所述權利要求1至6任一項中所述的方法。

10.一種電子裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行所述權利要求1至6任一項中所述的方法。