[發明專利]可靠性的校驗方法、裝置、存儲介質及電子裝置

在審

• 申請號: 202210033923.1
• 申請日: 2022-01-12
• 公開（公告）號: CN114416448A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 吳志豪
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙靜

本發明實施例提供了一種可靠性的校驗方法、裝置、存儲介質及電子裝置，其中，該方法包括：控制待檢測設備第i次上電，其中，待檢測設備上連接有多個外設，i大于或等于1；讀取待檢測設備發送的第i個日志文件集合，其中，第i個日志文件集合中包括多個外設的日志文件；根據第i個日志文件集合對多個外設的可靠性進行校驗，得到第i次校驗結果。通過本發明，解決了相關技術中存儲設備外設的可靠性測試效率較低的問題，進而達到了提高存儲設備外設的可靠性測試效率的效果。

技術領域

本發明實施例涉及通信領域，具體而言，涉及一種可靠性的校驗方法、裝置、存儲介質及電子裝置。

背景技術

相關領域中，通過對設備的整機上下電操作，可以測試設備的可靠性。即，可以通過對待檢測設備進行多次上下電的操作，校驗待檢測設備是否正常。在待檢測設備是存儲設備的情況下，通過對存儲設備的上下電操作還可以檢測存儲設備外設的可靠性。

現有技術中，在對待檢測設備上下電操作時，是通過人工查看后臺管理界面的日志信息，確認待檢測設備的外設是否正常，但是這樣需要在設備完全啟動之后，才可以在后臺界面的日志信息中查看待檢測設備外設的狀態，平均循環一次上下電操作需要5-6分鐘，導致設備外設的可靠性測試效率較低。此外，現有技術中的上下電測試只能實現簡單的上下電壓力測試，無法對測試過程中的問題進行記錄和跟蹤。

針對相關技術中存在的上述問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種可靠性的校驗方法、裝置、存儲介質及電子裝置，以至少解決相關技術中存儲設備外設的可靠性測試效率較低的問題。

根據本發明的一個實施例，提供了一種可靠性校驗的方法，包括：控制待檢測設備第i次上電，其中，所述待檢測設備上連接有多個外設，所述i大于或等于1；讀取所述待檢測設備發送的第i個日志文件集合，其中，所述第i個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i次校驗結果。

可選地，在所述得到第i次校驗結果之后，所述方法還包括：在所述第i次校驗結果中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備保持所述第i次上電；或者，在所述第i次校驗結果中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備下電。

可選地，在所述控制所述待檢測設備下電之后，所述方法還包括：控制所述待檢測設備第i+1次上電，并讀取所述待檢測設備發送的第i+1個日志文件集合，其中，所述第i+1個日志文件集合中包括所述多個外設的日志文件；根據所述第i+1個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，得到第i+1次校驗結果。

可選地，在所述得到第i+1次校驗結果之后，所述方法還包括：在所述第i+1個日志文件集合中包括至少一個外設出現校驗錯誤的情況下，控制所述待檢測設備下電；或者，在所述i+1等于N的情況下，控制所述待檢測設備下電，其中，所述N是控制所述待檢測設備上電的最高次數，N大于1。

可選地，所述方法還包括：在所述多個外設中的目標外設出現所述校驗錯誤的情況下，將與所述目標外設對應的目標計數值加一。

可選地，所述根據所述第i個日志文件集合對所述多個外設的可靠性進行校驗，包括：對所述第i個日志文件集合中的每個日志文件執行以下操作，在執行以下操作時，每個日志文件為當前日志文件：將所述當前日志文件與對應的預設日志文件進行匹配；在所述當前日志文件與所述對應的預設日志文件匹配的情況下，將所述當前日志文件對應的外設確定為校驗成功的外設；在當前日志文件與所述對應的預設日志文件不匹配的情況下，將所述當前日志文件對應的外設確定為校驗錯誤的外設。