[其他]高抗干擾HP-MOS系列集成電路無效
| 申請號: | 85102308 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85102308B | 公開(公告)日: | 1988-07-06 |
| 發明(設計)人: | 寧震寰 | 申請(專利權)人: | 鄭州大學 |
| 主分類號: | H01L27/04 | 分類號: | H01L27/04 |
| 代理公司: | 河南省專利代理中心 | 代理人: | 王鋒 |
| 地址: | 河南省鄭州*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 抗干擾 hp mos 系列 集成電路 | ||
本發明屬于微電子學領域。
在工業電器干擾信號中,常有幅度大于線路噪聲容限,而持續時間很短的干擾脈沖,當其持續時間小于某個數值時,并不引起誤動作,而此值與電路本身的性能有關。為了定量描述電路自身的這種抗干擾能力,我們引入了動態噪聲容限△TN這一指標。
選一個脈沖幅度與被測電路的正常輸入信號幅度相等的正方波,疊加在輸入低電平上,如圖1,改變其脈沖寬度△T,總可以找到一個△TL,當△T<△TL時,電路工作正常,當△T>△TL時,電路工作不正常,△TL就稱為電路的低態噪聲容限。同理,選與被測電路正常輸入信號幅度相等的負方波,疊加在輸入高電平上,如圖2,總可以找到一個△TH,當△T<△TH時,電路工作正常,當△T>△TH時電路工作不正常,△T就稱為電路的高態動態噪聲容限。
由于干擾信號是隨機的,因而電路的抗干擾能力取決于△TL和△TH中最低者,即:
△TИ=min(△TL,△TH)……①
以門電路為例說明△TL與△TH的物理意義。為討論簡便,我們假設輸入、輸出信號的上升時間tr、下降時間tf均為0,這時電路的導通延時時間tPHL即為△TL,電路的截止延遲時間tPLH即為△TH。(參看圖3)
這時電路的最高頻率
fm=1/tPHL+tPLH=1/ΔTL+ΔTH……②
若:△TL≤△TH由①式得△TN=ΔTL
設△TH=α△T(α≥1),由②式得
△TN=1/fm(1+α)……③
反之,若△TH<△TL時,由①式得△TN=△TH
設△TL=α△TH(α>1)
由②式得出:
△TN=1/fm(1+α)……④
③、④式說明△TN與fm成反比,可見高速器件的抗脈沖干擾能力弱。又因為α≥1,在電路fm相同的條件下,要使動態噪聲容限達到最大值,則α必為1,即要求△TL=△TH。由于△TN決定于fm,而不決定于實際使用的頻率f,(f<fm);所以高速器件并不適用于干擾強、電路速度要求低的場合,因而應設計新型的低速高抗干擾集成電路,來滿足這一領域的需要,以降低整機成本,提高整機抗干擾性能。
據此我們分析了P-MOS電路在工業控制應用中的優缺點。
其主要缺點是:
1、在24V電源電壓下,噪聲容限只有4V左右,抗干擾能力差。
2、輸出低電平不夠低,通常負15V左右,如負載管外接第二電源,雖然低電平可降低,但使用不方便,且功耗會增大。
3、當外接電容提高動態噪聲容限時,脈沖的上升時間tr與下降時間tf增長,這是很不利的。
4、線性電路與數字不能用同一工藝集成于一個硅片上。
5、與其它集成電路連接不方便。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





