[其他]光纖電壓(電場)計

無效

• 申請號: 85105751
• 申請日: 1985-07-30
• 公開（公告）號: CN85105751B
• 公開（公告）日: 1988-03-16
• 發明（設計）人: 霍玉晶;彭江得;廖延彪
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R29/08;G01R29/12;G01R13/40
• 代理公司: 清華大學專利事務所
• 代理人: 黃學信,廖元秋

1、一種由光纖和電光晶體構成的光纖電壓（電場）計，其特征在于在探頭內部設置一面部分反射鏡〔7〕，將經過光纖〔3〕、透鏡〔4〕和偏振棱鏡〔5〕之后射向電光晶體〔8〕的光束的一部分反射，此反射光經透鏡〔13〕和光纖〔14〕取出，作為對入射到電光晶體〔8〕上的光進行歸一處理的取樣信號。

2、一種由光纖和電光晶體構成的光纖電壓（電場）計，其特征在于用以輸入光束、取樣光束和輸出光束的三條光纖〔19、23、28〕共用同一個透鏡〔21〕來耦合光束，此三條光纖位于透鏡〔21〕的前焦點附近，從探頭的同一側面引出，由激光器〔17〕發出的光經過透鏡〔18〕、光纖〔19〕、偏振器〔20〕和透鏡〔21〕后，由適當傾斜的部分反射鏡〔22〕反射，反射光按原路經光纖〔23〕后由光電探測器〔24〕接收，作為對入射光進行歸一處理的取樣信號。

3、根據權利要求1、2所述的光纖電壓（電場）計，其特征在于所說的部分反射鏡可以是特意插入的反射鏡，也可利用探頭內部λ/4波片〔6〕的右表面、電光晶體〔8〕的左表面、λ/8波片〔25〕的左表面、電光晶體〔26〕的左表面中的任一個代替。