[其他]狹縫X射線照相裝置

無效

• 申請號: 85107484
• 申請日: 1985-10-11
• 公開（公告）號: CN85107484A
• 公開（公告）日: 1987-04-15
• 發明（設計）人: 西蒙·達英克;哈哥·夫拉斯布洛姆
• 申請（專利權）人: 老代爾夫特光學工業有限公司
• 主分類號: G03B42/02
• 分類號: G03B42/02
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 李強

1、狹縫X射線照相裝置，它包括一種X射線源，該X射線源適于用在工作過程中進行掃描運動的平面扇形射束來照射被物體，該狹縫隔板被分成多個并列部分；探測裝置，用于在工作過程中產生電輸出信號，并且同設置在物體后面的X射線探測器相配合，該探測裝置被分成相應于狹縫隔板各部分的部分；同探測裝置相連的狹縫控制裝置，用于控制同各個狹縫部分相配合的X射線衰減部件，其特征在于狹縫控制裝置對于狹縫和探測裝置的每對相對應的部分，都包含有激勵電路，在這種激勵電路的作用下，至少一個同特定的狹縫部分相配合的衰減部件的位置會發生變化，而且這種激勵電路包括在控制電路中，該控制電路由通過這個狹縫部分、貫穿物體并照射到探測裝置的相應部分上的輻射而閉合起來，這種控制電路還包括比較電路，該比較電路的輸出端同激勵電路耦合，它的一個輸入端加有來自探測裝置部分的電信號，另一個輸入端加有預置的參考信號，激勵電路受到了適當的控制，從而使比較電路的輸入信號之差持續地趨向零值。

2、根據權利要求1的裝置，其特征在于比較電路是差分放大器。

3、根據權利要求1或2的裝置，其特征在于對于每個控制電路的比較電路，參考信號是相同的。

4、根據權利要求1或2的裝置，其特征在于對于不同控制電路的比較電路，參考信號表現出預定的差別，這些差別取決于與裝置有關的參數。

5、根據前面的權利要求中的一項的裝置，其特征在于控制電路包括跨阻電路，在它上面加有來自控制裝置的相應部分的電信號，該跨阻電路的輸出信號被加到比較電路的所述一個輸入端上。