[其他]光學(xué)物性測(cè)定裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85200312
• 申請(qǐng)日: 1985-04-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN85200312U
• 公開(kāi)（公告）日: 1986-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張治國(guó);俞祖和;朱化南;韓權(quán)生
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院物理研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/17
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/17
• 代理公司: 中國(guó)科學(xué)院物理研究所專(zhuān)利辦公室
• 代理人: 高存秀

1、一種由樣品室[4]及固體樣品室的定位裝置[20]、光電檢測(cè)器[12]、數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)[13]所組成的光學(xué)物性測(cè)定裝置，其特征在于：由凹面鏡[1]和[2]安裝在樣品室[4]的一端，凹面鏡[3]安裝在樣品室[4]另一端，凹面鏡[1]、[2]經(jīng)調(diào)整機(jī)構(gòu)[5]與凹面鏡[3]調(diào)成共焦結(jié)構(gòu)，樣品室[4]為一個(gè)可拆卸的封閉容器，是“通用型”或者是“放電激發(fā)型”的樣品室。

2、一種按權(quán)利要求1所述的光學(xué)物性測(cè)定裝置，其特征在于：壓力艙〔8〕是不銹鋼，或者是其它金屬，艙的兩端可以拆卸，壓力艙上裝有熱交換器〔15〕。

3、一種按權(quán)利要求1、2所述的光學(xué)物性測(cè)定裝置，其特征在于：凹面鏡〔1〕、〔2〕、〔3〕鍍以反射率在90％以上的寬帶反射膜。

4、一種按權(quán)利要求3所述的光學(xué)物性測(cè)定裝置，其特征在于：樣品室〔4〕安放在定位槽〔20〕上，樣品室〔4〕與定位槽〔20〕滑動(dòng)連接。樣品室〔4〕側(cè)壁連有一極板〔16〕磁場(chǎng)線圈〔17〕在樣品室〔4〕與極板〔16〕之間。

5、一種按權(quán)利要求4所述的光學(xué)物性測(cè)定裝置，其特征在于：外接控制顯示機(jī)箱〔19〕，它包括控制步進(jìn)馬達(dá)手控／程控按鍵〔18〕、光電檢測(cè)器〔12〕、數(shù)據(jù)顯示裝置〔13〕，顯示機(jī)箱內(nèi)設(shè)控制電路連一微處理機(jī)、A／D變換電路、接口電路和存貯器構(gòu)成。