[其他]光學物性測定裝置

無效

• 申請號: 85200312
• 申請日: 1985-04-01
• 公開（公告）號: CN85200312U
• 公開（公告）日: 1986-02-19
• 發明（設計）人: 張治國;俞祖和;朱化南;韓權生
• 申請（專利權）人: 中國科學院物理研究所
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 中國科學院物理研究所專利辦公室
• 代理人: 高存秀

光學測量儀器。

與本實用新型最相近的現有技術是這樣一類儀器，即將光通過待測物質，然后由測量輸入端和輸出端的光強比值，來測定該物質的吸收系數、透射系數、增益系數的一類儀器，例如：分光光度計。

反映該項技術的文獻：

1.Instruction????for????Model????703????Atomic????absorption????Spectrophotometer

PERKIN－ELMER????Co.U.S.A.

2.Instructions????mannual????for????Shimadzu????Multipurpose????Recording????Spectrophotometer????Model????MPS－50L

SHIMADZU????SEISAKUSHO????LTD.Japan。

現有的測量儀器是將光通過待測物質，然后由測量輸入端和輸出端的光強度來測定該物質的吸收系數、透射系數和增益系數。這種測量方法有致命的缺點。例如：為了精確測量海水的透明程度、大氣對光的吸收或大氣中的微量原子的含量，往往需要將光源和探測元件放置在相距很遠的兩個地方，在很多情況下（如海底、高空）進行這種測量是極其困難甚至是不可能的。

本發明的任務是要克服上述的缺點及不足，提供一種有效的測試手段，來取樣定量測定不同波長的光訊號在自然介質中（高空、水下及其它特定環境）的模擬遠程傳輸系數，測定在不同電場、磁場強度下、不同溫度或在放電激發條件下，各類通光物質自10^－5至10個大氣壓下的透射系數、損耗系數、增益系數。

本實用新型系利用光束在三塊經適當配置的鍍有高反射膜層的球面反射鏡之間多次反射，但發散度保持不變的性質，來測量不同介質在不同物理條件下，于不同波長處的吸收增益等物性。本實用新型的任務是以下述的方式來完成的。圖1是本實用新型的一種具體結構的剖面圖。凹面鏡〔1〕、〔2〕經調整機構〔5〕與凹面鏡〔3〕調成共焦結構，三塊凹面鏡均鍍以寬帶高反射膜（反射率＞99％）。從而保證光束在三鏡間多次反射后光束發射度不變，且光強減弱很少。光在凹面鏡〔1〕〔2〕和〔3〕之間來回反射，多次通過待測介質。在待測介質的吸收系數或增益系數不大的情況下，這就大大提高了測量的精度。為了用途廣泛置于三鏡間的樣品室〔4〕為一可拆卸的封閉容器，樣品室〔4〕放入定位槽〔20〕，樣品室〔4〕可以有二種類型，即“通用型”（可放置液態通光介質，適于常規條件下的光學性能測試）和“放電激發型”（樣品室呈放電管結構，對各類氣體介質實現橫向快速放電激發，從而可對介質進行激發條件下的光學性能測試）。用步進馬達〔6〕對鏡〔1〕、〔2〕進行程序控制，從而方便地改變光束在三鏡間的反射次數，平面反射鏡〔7〕用于引導光束。壓力艙〔8〕為光學系統及樣品室的外殼，它由不銹鋼或其它金屬制做，包括有真空／加壓閥門〔9〕，致冷／熱載體出入口〔10〕，壓力顯示裝置〔11〕，通光窗口〔14〕。壓力艙〔8〕與外接真空系統／加壓系統相連，以得到從10^－5－10個大氣壓的壓強，測量不同氣壓下樣品的光學性能。為了測量在不同溫度下樣品的光學性能，由外接半導體致冷／加熱器提供致冷／熱載體（空氣或其它待測氣體），通過熱交換器〔15〕，使壓力艙〔8〕內溫度在－30℃～50℃可調。本儀器還可以通過在樣品室〔4〕安裝一極板〔16〕可施加電壓，線圈〔17〕通以電流可在樣品室中形成軸向磁場，可以測量樣品在加電場及磁場下的光學性質。光信號由光電檢測器〔12〕轉換為電信號。〔21〕為步進馬達插座。為了測量方便還可安裝控制／顯示機箱〔19〕，圖2是本實用新型的一種控制與檢測示意圖，包括控制步進馬達的手控／程控按鍵〔18〕、光電檢測器〔12〕、數據顯示裝置〔13〕、機內電路由微處理機、A／D變換電路、接口電路和存貯器構成。

本實用新型特別適用于光的大氣傳輸、污染監測及海洋等部門的科學研究及勘測領域。本實用新型對取樣的樣品進行室內測量可以代替遠程現場測量，并可通過改變測量時所加的物理條件（溫度、電場、磁場等），來模擬現場的條件進行研究。本實用新型所具有的在放電激發等條件下對介質物性的動態測試功能，是現有測量儀器所不具備的。