[其他]二氧化錫膜溶解法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 86100187 | 申請日: | 1986-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN86100187A | 公開(公告)日: | 1987-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 施兆順 | 申請(專利權(quán))人: | 云南師范大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/302;H01L21/461;C23F1/30 |
| 代理公司: | 云南省專利事務(wù)所 | 代理人: | 馬勇剛 |
| 地址: | 云南省昆明市*** | 國省代碼: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氧化 溶解 | ||
本發(fā)明是清除附在襯底材料表面的二氧化錫透明導(dǎo)電晶體薄膜的方法。
二氧化錫晶體薄膜是一種比較理想的半導(dǎo)體薄膜,它所具有的光學(xué)電學(xué)等物理特性使之在不少技術(shù)領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。由于制成二氧化錫膜的工藝成品率不可能百分之百,因而必須清除非成品上的二氧化錫膜,使襯底材料或器皿得以回收使用。對于清除二氧化錫膜的方法,曾有過用強(qiáng)堿或氫氟酸、或二氧化硅腐蝕液的嘗試,但都溶解不完全,留有斑塊;襯底材料被嚴(yán)重剝蝕或留下腐蝕坑,使襯底材料不能再用。
本發(fā)明的目的是提供一種在常溫常壓下,既能迅速、完全溶解二氧化錫膜,又不腐蝕襯底材料的溶解二氧化錫膜的方法。
本發(fā)明的要點(diǎn)在于在常溫常壓下配制具有強(qiáng)酸性、還原性和絡(luò)合性的溶液,將附有二氧化錫膜的襯底材料淹沒于其中,適當(dāng)加熱(也可不加熱)至大量氣泡產(chǎn)生,十五分鐘后取出,迅速用純水沖凈。該溶液由濃鹽酸、濃氫氟酸和鈦絲(或鈦粉)組成。濃鹽酸和濃氫氟酸的用量按體積比可以為80-95%和20-5%,以95%和5%效果最佳。鈦絲(或鈦粉)的用量以保證溶解過程中不斷產(chǎn)生氫氣為準(zhǔn),一般每立方米溶液加入150-200千克。
本發(fā)明用于制備SIS太陽電池時,將附有二氧化錫膜的硅片(膜的面積均為480平方厘米)置入2×10-4立方米體積比為95%的濃鹽酸和5%的濃氫氟酸溶液中,溶液中加入3×10-2千克鈦絲,處理后的硅片無二氧化錫膜,表面平整光滑,晶相顯微鏡下看不到斑點(diǎn)和腐蝕坑,用該硅片制成的太陽電池和新硅片的性能相同。
本發(fā)明操作簡便,能迅速完全溶解二氧化錫膜,不腐蝕襯底材料,且成本低。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





