[其他]光學(xué)物性測定裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85200312 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85200312U | 公開（公告）日： | 1986-02-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張治國;俞祖和;朱化南;韓權(quán)生 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中國科學(xué)院物理研究所專利辦公室 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 北京市6*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 本實用新型系利用光束在三塊經(jīng)適當(dāng)配置的鍍有高反射膜層的球面反射鏡之間多次反射但發(fā)散度保持不變的性質(zhì)，來測量不同介質(zhì)(氣體、液體及透明固體介質(zhì))在不同物理條件(電、磁場強度、氣壓、溫度、放電激發(fā))下于不同波長處的吸收，增益等物性。本儀器的光程(反射次數(shù))調(diào)節(jié)及信號測量與處理均由計算機程控完成。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光學(xué) 物性 測定 裝置 | ||
【主權(quán)項】：
1、一種由樣品室[4]及固體樣品室的定位裝置[20]、光電檢測器[12]、數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)[13]所組成的光學(xué)物性測定裝置，其特征在于：由凹面鏡[1]和[2]安裝在樣品室[4]的一端，凹面鏡[3]安裝在樣品室[4]另一端，凹面鏡[1]、[2]經(jīng)調(diào)整機構(gòu)[5]與凹面鏡[3]調(diào)成共焦結(jié)構(gòu)，樣品室[4]為一個可拆卸的封閉容器，是“通用型”或者是“放電激發(fā)型”的樣品室。
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- 同類專利
- 專利分類
G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
